Analisi Multivariata per applicazioni spettroscopiche (Corso avanzato) 2 giornate

INTRODUZIONE

Il corso è organizzato in collaborazione con Sartorius Stedim Data Analytics – Umetrics.

Le spettroscopie ottiche e magnetiche sono tecniche analitiche ampiamente diffuse nei laboratori di ricerca che trovano sempre maggiori applicazioni anche in altri settori quali il controllo qualità, le indagini bio-mediche, la caratterizzazione di prodotti alimentari, le scienze “omiche”.

La complessità del dato spettroscopico rende necessario l’impiego di particolari metodologie di analisi in grado di operare in presenza di tabelle di dati caratterizzate da un numero ridotto di campioni, un numero elevato di variabili, presenza di rumore e di un grado elevato di correlazione.

L’analisi statistica multivariata è in grado di affrontare tali problematiche, di estrarre l’informazione sistematica e di presentare i risultati mediante grafici di semplice interpretazione.

OBIETTIVI

Il corso fornisce una revisione dei concetti base delle tecniche PCA e PLS, presenta metodi di pretrattamento dati con particolare attenzione a trasformazioni e filtri adatti all’analisi di dati di tipo spettroscopico, discute le modalità di interpretazione dei principali grafici (score plot, loading, plot, etc.) generati da dati di origine spettroscopica.

Saranno inoltre presentate la tecnica OPLS, le tecniche di classificazione SIMCA, PLS-DA, OPLS-DA e alcune loro applicazioni in ambito spettroscopico.

DESTINATARI

Il corso è rivolto a ricercatori, personale dei settori R&D, monitoraggio della produzione e controllo qualità che abbiano la necessità di analizzare dati di origine spettroscopica.

È richiesta la conoscenza delle tecniche PCA e PLS.

Richiedi il corso

 

Programma del corso
Primo giorno
9:00 - 17:00 (E’ previsto un Coffee break il mattino, uno il pomeriggio e un’ora per la pausa pranzo)
Revisione delle tecniche PCA e PLS
  • principi, aspetti metodologici e applicazioni
Pretrattamento dei dati
  • metodi avanzati di centratura e scaling
  • filtri specifici per dati di tipo spettroscopico: SNV, MSC, OSC
  • allineamento e binning
Esercitazioni guidate e discussione
Secondo giorno
9:00 - 16:00

Tecniche di classificazione: PLS-DA e SIMCA

  • principi, aspetti metodologici e applicazioni
  • interpretazione dei modelli e loro uso in predizione
  • applicazioni di OPLS-DA e problematiche di classificazione

Esercitazioni guidate e discussione

Conclusione del corso.

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